Ключевая особенность: Объектив с байонетом X/формат APS-C 27–84 мм (эквивалент 35 мм) Диапазон диафрагмы: от f/2,8-4 до f/22 Три асферических элемента Один элемент со сверхнизкой дисперсией Супер покрытие EBC Линейный мотор автофокусировки Оптическая стабилизация изображения Закругленная 7-лепестковая диафрагма. Обзор FUJIFILM XF 18-55mm f/2.8-4 R LM OIS: Сочетая в себе универсальность, скорость и элегантный дизайн, XF 18-55mm f/2.8-4 R LM OIS от FUJIFILM представляет собой универсальный стандартный зум-объектив с эквивалентным фокусным расстоянием 27–84 мм для беззеркальных камер с байонетом X. Его светосила с максимальным диапазоном диафрагмы f/2,8–4 подходит для работы в сложных условиях освещения, а также помогает снизить общий размер, размер и вес объектива. Что касается оптики, этот зум имеет три асферических элемента и один элемент со сверхнизкой дисперсией, которые помогают контролировать сферические и хроматические аберрации для улучшения резкости и четкости. Покрытие Super EBC также улучшает контрастность и нейтральность цвета, уменьшая блики и двоение изображения при работе в условиях сильного освещения. Кроме того, линейный двигатель обеспечивает быструю и тихую автофокусировку, а эффективная пятиступенчатая система стабилизации изображения сводит к минимуму дрожание камеры, что позволяет использовать ее в различных ситуациях. Стандартный зум предназначен для беззеркальных камер Fujifilm X с байонетом APS-C и обеспечивает эквивалентный диапазон фокусных расстояний 27–84 мм. Один элемент со сверхнизкой дисперсией используется для значительного уменьшения цветовых окантовок и хроматических аберраций и обеспечения высокой четкости и точности цветопередачи во всем диапазоне масштабирования. Три асферических элемента контролируют искажения и сферические аберрации, что помогает улучшить резкость и обеспечить более точную визуализацию. На отдельные элементы нанесено покрытие Super EBC, чтобы уменьшить блики и двоение изображения на линзе, а также повысить контрастность и точность цветопередачи при работе в условиях сильного освещения. Система автофокусировки с линейным двигателем в сочетании с конструкцией внутренней фокусировки обеспечивает плавную, почти бесшумную работу, что особенно полезно для видеоприложений и при работе в чувствительных к шуму местах. Система оптической стабилизации, дополненная усовершенствованным гироскопическим датчиком и уникальной серией алгоритмов, сводит к минимуму дрожание камеры до четырех ступеней, обеспечивая более четкое изображение при работе с более длинными фокусными расстояниями или более длинной выдержкой. Закругленная семилепестковая диафрагма обеспечивает приятное качество расфокусировки, что дает преимущества при использовании методов выборочной фокусировки и малой глубины резкости.

Ключевая особенность: Объектив с байонетом X/формат APS-C 85 мм (эквивалент 35 мм) Диапазон диафрагмы: от f/1,2 до f/16 Два асферических элемента Один элемент со сверхнизкой дисперсией Передний элемент с флюоритовым покрытием Закругленная 11-лепестковая диафрагма Герметичная конструкция от атмосферных воздействий FUJINON Cinema Technology.   FUJIFILM XF 56mm f/1.2 R WR — это защищенная от атмосферных воздействий версия знаменитого эквивалентного объектива с фокусным расстоянием 85 мм. Эта версия, известная своей чрезвычайно высокой максимальной диафрагмой f/1,2, отличной изоляцией объекта и приятной цветопередачей, также обновляет оптическую формулу, добавляя асферические элементы в группу фокусировки, значительно улучшая расстояние фокусировки до 1,6 дюйма и 11-дюймовое расстояние. Закругленная лепестковая диафрагма для улучшения боке. В оптической схеме используются как асферические элементы, так и элементы со сверхнизкой дисперсией, которые помогают уменьшить различные аберрации, цветную окантовку и искажения для достижения высокой резкости и четкости. Также используется покрытие Super EBC для уменьшения бликов и ореолов, повышения контрастности и точности цветопередачи при ярком освещении и освещении сзади. Закругленная одиннадцатилепестковая диафрагма обеспечивает плавные и приятные блики вне фокуса. В этом цельнометаллическом объективе используются девять резиновых уплотнений, защищающих его от пыли и влаги, а также сохраняющих полную функциональность при температуре до 14°F. Между тем, передний элемент с фтористым покрытием отталкивает воду, отпечатки пальцев и другие следы, помогая поддерживать высокое качество изображения, когда погода неблагоприятна для вас. Объектив с постоянным фокусным расстоянием для портретной съемки предназначен для беззеркальных камер Fujifilm X-mount формата APS-C и обеспечивает эквивалентное фокусное расстояние 85 мм. Обеспечивает высокое разрешение, отсутствие аберраций, насыщенность деталями и цветом. Объектив XF 56mm f/1,2 R WR идеально подходит для портретной, свадебной и любой другой творческой съемки, требующей точного контроля глубины резкости. Он обеспечивает невероятную разрешающую способность изображения даже при минимальном расстоянии фокусировки 1,6 дюйма, что делает его идеальным портретным объективом. Объектив, но также подходит и для других применений в настольной, предметной и коммерческой фотографии. Его оптическая конструкция состоит из 13 элементов в восьми группах, включая один ED и два асферических элемента. В восьми элементах, используемых в фокусирующей группе, используется технология высокопреломляющих линз FUJINON Cinema Lenses, позволяющая минимизировать хроматические, сферические и коматические аберрации. Это помогает минимизировать засветку светлых участков, повышая при этом качество изображения и детализацию объекта. Особенно яркая максимальная диафрагма f/1,2 превосходно работает в условиях низкой освещенности и обеспечивает заметный контроль над глубиной резкости для использования методов выборочной фокусировки. На отдельные элементы нанесено покрытие Super EBC, чтобы уменьшить блики и двоение изображения на линзе, а также повысить контрастность и точность цветопередачи при работе в условиях сильного освещения. Закругленная одиннадцатилепестковая диафрагма обеспечивает приятное качество расфокусировки, что дает преимущества при использовании методов выборочной фокусировки и малой глубины резкости.